納(na)米(mi)粒度分(fen)析儀應(ying)用于磨料、化(hua)學機械拋(pao)光液(ye)、陶(tao)瓷(ci)、粘土、涂料、污染(ran)監測、化(hua)妝品(pin)、乳(ru)劑、食品(pin)、液(ye)體(ti)工(gong)作介質(zhi)/油、墨水、 乳(ru)液(ye)、色漆、制藥粉體(ti)、顏料、聚合物、蛋(dan)白質(zhi)大分(fen)、二(er)氧化(hua)硅以(yi)及自(zi)組裝TiO2納(na)米(mi)管(TNAs)等。
高速、準確的(de)檢測能力。
高性(xing)能自適(shi)應光子相關(guan)器,提(ti)高檢(jian)測的實時性(xing)、準確性(xing)和(he)重復性(xing)。
自(zi)適(shi)應光源強度調節,保證測量裝置檢測性(xing)能的穩(wen)定性(xing)和重(zhong)復性(xing)。
高靈敏度(du)和穩(wen)定(ding)度(du)的光(guang)子計數級光(guang)電(dian)信(xin)號檢(jian)測(ce)能力。
可(ke)靠的光(guang)纖耦合裝(zhuang)置,高效地增加DLS和ELS信號的信噪比(bi),提高測量穩定性。
準確(que)智(zhi)能的頻譜分析算法,提(ti)高ELS的測量精度。
高(gao)穩(wen)定性(xing)的(de)光路與(yu)電路設計:消除(chu)雜散光和噪聲(sheng)信號(hao)的(de)影響,結果(guo)穩(wen)定性(xing)和重復(fu)性(xing)高(gao)。
| 粒徑測量范圍 | 0.7-10um(動態光散射法) |
| Zeta電位測試范圍 | -500~﹢500mV |
| 準確性與重復性 | 優于2%(國家標準樣品 D50 值) |
| 檢測角度 | 90°、18° |
| 樣品池 | 塑料樣品池、Zeta電位樣品池 |
| 溫控范圍 | 10℃-50℃,精度±0.1℃,半導體制冷 |
| 激光光源 | 可調半導體激光器,波長635nm、35mW |
| 檢測器 | 光子計數級的光電倍增管(PMT) |
| 數字相關器 | 集成的光子相關器,雙通道。1000 通道,最小采樣時間 100ns |
| 納米粒度儀軟件 | 納米粒度儀分析軟件是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件,采用動態光散射技術及電泳光散射技術,可以實時、準確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布,以及Zeta電位等參數 |
| 計算機接口 | USB3.0及以上 |