簡介

介質損(sun)耗和(he)介電常數(shu)是各(ge)種金屬(shu)氧化(hua)物，板(ban)材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等(deng)物質的(de)一(yi)項重(zhong)要的(de)物理(li)性(xing)質。通過測定可進一(yi)步了解影響介質損(sun)耗和(he)介電常數(shu)的(de)各(ge)種因(yin)素，為提高材料的(de)性(xing)能提供依據。

用途

該介(jie)質損耗測試儀用(yong)于科研(yan)機關(guan)、學校、工廠等單位對(dui)無機金屬新(xin)材料性(xing)能(neng)的應用(yong)研(yan)究。

參考標準

GB/T 1409-2006 測(ce)量電氣(qi)絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括(kuo)米波波長存內)下電容率和(he)介質損耗因(yin)數的推薦方法

GB/T 1693-2007 硫(liu)化橡(xiang)膠 介(jie)電常數和(he)介(jie)質損(sun)耗(hao)角(jiao)正切值的測定方法(fa)

ASTM-D150-介電(dian)常(chang)數(shu)測試方(fang)法

GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和(he)介電常數的測試方(fang)法(fa)

• 測量范圍廣(guang)，采樣(yang)精度高(gao)，符合(he)多(duo)標準(zhun)，多(duo)參數顯示，操(cao)作簡(jian)單(dan)。

• DDS數(shu)字合成信號源，自(zi)動扣除電感，自(zi)動掃描諧振點。

• LCD屏幕(mu)可顯示F，L，C，Q，Lt，Ct等參數，大電容(rong)值(zhi)直(zhi)接(jie)測量顯示，數顯微測量裝(zhuang)置，直(zhi)接(jie)讀值(zhi)。